TE42-LL 2AR 将两种 Aspect Ratio (2AR) 合并到一张 Chart 中。现在，4:3 和 16:9 Aspect Ratio 都在一个 Chart 平面上。Chart 的中心将与原始 TE42-LL Test Chart 完全相同，但现在在外部添加了额外的 Siemens Stars，以适应不同的 Aspect Ratio。
在一张 Chart 平面上具有多个 Aspect Ratio 将为较小的 Test Lab 提供更大的灵活性，并减少更换多个 Charts 时损坏的几率。
此 Chart 有多种采样率。我们的销售团队很乐意为您提供更多信息。
TE42-LL 2AR 得到 iQ-Analyzer-X 图像评估软件的支持。
*确切的布局和尺寸可能与上图有所不同。