TE42-LL-Ultra-Wide（超广角）版测试图是基于TE42-LL（低光）测试图设计的，专为广角相机而开发，这类相机因测试图像中存在的Distortion（超广角相机常见现象）而难以进行准确的Resolution测量。 该测试图采用格子图案，使您即使在存在Distortion的情况下也能分析Resolution。
这些格子图案是频率模式，其图案不会发生变化，这与采用变化图案的西门子星形图案不同。因此，即使存在Distortion，也能更准确地测量Resolution。
TE42-LL UW 图表支持 iQ-Analyzer-X 图像评估软件。
*实际布局和尺寸可能与上图有所不同。