TE42-LL UW (Ultra-Wide) 版本的 TE42-LL（低光）Chart 专为广角 Camera 设计，这些 Camera 由于 Test 图像中存在的 Distortion（Ultra-Wide Camera 的典型特征）而难以进行准确的 Resolution 测量。此 Chart 使用方格图案目标，即使存在 Distortion 也能让您分析 Resolution。
这些方格图案是频率图案，它们不会像使用变化的图案的 Siemens Star Patterns 那样改变。因此，即使存在 Distortion，Resolution 也可以更准确地测量。
TE42-LL UW 得到 iQ-Analyzer-X 图像评估软件的支持。
*确切的布局和尺寸可能与上图有所不同。