多功能Test Charts

TE42-LL-Ultra-Wide（超广角）专为更精确地测量广角相机系统而开发，其测试图表的角落和中心处设有图案，包含五种可分析的固定空间频率。这种设计使测量区域的位置选择具有高度灵活性。 由于图案在角落处更为醒目，因此即使存在严重的桶形Distortion，仍可在图像角落进行测量。

TE42-LL 2AR（2种宽高比）版本将4:3和16:9两种宽高比整合在同一测试图表平面上，从而实现更高效的相机测试。 Test Chart 的中心部分与原始 TE42-LL Test Chart 完全一致，但现在外围增加了额外的西门子星形图案，以适应不同的宽高比。

要充分发挥这些多功能Test Charts的功效，适当的Illumination至关重要。 我们推荐采用 iQ-LED 技术的 iQ-Flatlights，它允许您生成 380–820 nm 范围内的自定义光谱。当定位正确时，它可为 TE42 系列和 UTT 等反射式 Test Charts 提供均匀的 Illumination。

除了 Illumination 设备外，我们还提供 iQ-Analyzer-X 软件用于评估测试结果。通过该软件可对每张 TE42 测试图和 UTT 的结果进行评估，从而检测被测设备（DUT）的性能问题。 iQ-Analyzer-X 软件采用灵活的用户界面和自动测试图识别功能，从而显著提升分析的效率和速度。该软件还能分析单个参考数据，将结果和图像文件保存到本地数据库，并实施自定义测试模板。

iQ-Analyzer-X 配合多功能 Test Charts 使用，可为评估相机系统的图像质量性能提供一套强大的解决方案。

相机性能测试的效率取决于测试设备的性能。随着相机开发日益先进且趋于实用化（例如在生产线上组装模块），对更有效测试方法以及相应测试设备的需求也随之增加。 标准的相机测试通常包括评估相机在各种图像质量因素方面的性能，例如Resolution、纹理损失、噪点、动态范围、Color accuracy、Distortion、Shading、色差等。相机系统通常需要针对多个因素进行评估。

几乎所有图像质量因素都有相应的 ISO 标准，其中规定了国际公认的测试方法，在许多情况下还包括测试设备。根据被测设备（DUT）需要评估的因素数量，需要设置多种不同的测试目标/测试图表进行测试。 虽然不断调整测试设置依然有效，但会耗费大量时间。因此，我们开发了一系列多功能 Test Charts，在同一图表平面上集成了多个测试目标，从而能够通过单张图像分析众多参数。

这些多功能测试图（即TE42系列）已成为我们最受欢迎的产品之一，多年来，我们不断扩展该系列，以实现通过单张测试图像评估更多因素。

每种 TE42 测试图均采用相同的灰色背景，并包含一组用于测量各种图像质量指标的测试目标。我们目前提供第二版标准 TE42、用于低光测试的 TE42-LL，以及同时适用于低光和时序测量的 TE42-LL 时序测试图。

TE42 标准是一款多功能 Test Chart，可分析包括 Resolution、纹理再现、动态范围、噪点、Color 再现、Distortion、Shading、色差、锐度以及视觉分析在内的各项因素。我们根据 ISO 标准的建议（在适用情况下），为每个因素设计了相应的测试目标。

Test targets include sine wave Siemens stars and slanted edges for resolution, leaf targets for texture loss, color checkers for color reproduction, and varying greyscale bars for dynamic range and noise measurements. Additionally, the chart edges contain small black-and-white targets for distortion measurement, as well as a skin tone target for visual assessments.

TE42-LL（低光）多功能测试图表可分析与标准 TE42 测试图表完全相同的各项因素，但通过采用不同的测试目标布局，最大限度地优化了低光环境下的测试效果。 此版本保留了许多关键测试目标，例如低光西门子星、枯叶以及位于测试图中心位置的倾斜边缘，以避免在低光环境下测试时出现角落光线衰减的影响。这种布局还确保了所有测试目标之间的距离均等。

此外，该测试图是根据 ISO 19093 标准中关于低光环境测试的精确规范设计的。它是该标准中指定的测试图，并由 Image Engineering 独家生产。通常，当被问及推荐哪种测试图时，我们会优先推荐 TE42-LL 而非 TE42，因为它在低光环境下的适用性更强。

我们经常被问及推荐哪种 TE42 版本，在几乎所有情况下，我们都推荐 TE42-LL 版本。理由是 LL 版本不仅具备 TE42 的所有功能，还针对低光环境测试进行了优化。 如上所述，所有测试目标均更靠近中心，以抑制测试图表边缘的光线衰减。该测试图表也被ISO 19093标准用于低光测试，并且是我们的iQ-Lab实验室根据VCX-标准评估相机系统时所采用的主要多功能测试图表。 总体而言，我们发现与标准版 TE42 V2 相比，TE42-LL 能够提供更先进的测试场景。

我们还提供两种型号的 TE42-LL，以增强实验室的测试能力。这两种型号专为低光测试场景进行了优化。

TE42-LL 时序测试图与 TE42-LL 完全相同，但我们为其安装了两个用于时序测量的 LED-Panel。该测试图基于 VCX 标准对手机和网络摄像头测试的要求设计。LED-Panel 嵌入在测试图的左上角和右下角。 我们采用两个高度不同的LED-Panel，以确保测试人员能够观察到DUT的Rolling shutter效应。

借助 LED-Panel，您可以测量相机系统的关键时序参数，包括拍摄和快门时滞、自动对焦时间、Rolling shutter 速度、曝光时间、帧率、显示刷新率以及启动时间。

TE42测试图系列被全球各地的测试实验室广泛采用，包括我们的iQ-Lab——在那里，我们每天都会使用这些测试图来评估相机系统的图像质量表现。

除了 TE42 系列外，我们还提供其他多功能 Test Charts，用于在单张图像中评估多个因素，其中最值得一提的是 UTT。UTT Test Chart 用于评估扫描仪及其他数字设备的成像质量，这些设备可将文档、照片和其他归档介质转换为数字图像。 该测试图包含色彩校准块、灰度级以及倾斜边缘目标，用于测量各种因素。