自信地定义光质
光质定义 | 在任何产品开发过程中，明确产品必须满足的具体要求以确保高质量都至关重要。使用 iQ-LED 时，应尽可能使 Illumination 光谱接近目标光谱，然后基于特定参数定义要求。 我们经常被问到，哪个参数最能代表接近目标光谱的生成光谱。以下示例图像展示了使用不同方法生成的同一光源。需要注意的是，即使某个参数更匹配，也不一定意味着光谱被更准确地再现。 图1展示了使用iQ-LED生成的标准光源A（光谱1）。 与此同时，图2展示了一个使用通道滑块手动调整的光谱（光谱2）。光谱2在形状和近红外（N-IR）含量方面与标准光源A存在显著差异。因此，对于相机特性分析或校准而言，光谱1是更优的选择。 然而，如果比较光谱的CCT或x、y色度坐标，如下表所示，结果更倾向于光谱2。FIT参数更能准确反映实际观测到的行为。 光谱 1 的 FIT 值为 87.1，而光谱 2 仅为 30.2。这怎么可能呢？本质上，通过使用少数几个仅需覆盖该颜色色域的窄带光源，就可以匹配 CIE x 和 y 色度坐标以及 CCT。 遗憾的是，当需要创建大多数标准光源所具有的精确连续光谱时，此方法并不充分。 FIT 值通过均方根（RMS）计算得出，并以百分比形式表示。它针对每个测量波长对比生成的光谱与目标光谱，从而将窄带光源的影响纳入考量。正因这一特定特性，FIT 参数也被应用到我们的 iQ-LED 设备中，用于优化生成的光谱。 基于 x 和 y 色度坐标生成 Illumination，虽然能减少与这些参数的偏差，但有时可能会导致光谱波动更大。iQ-LED 软件版本 3.3.1 将引入一种名为“全局拟合”的 FIT 值新计算方法。 原有的拟合计算方法仍然存在，并被称为“局部拟合”。有关 FIT 参数及其计算方法差异的更多详细信息，请参阅《iQ-LED 拟合参数计算指南（全局与局部）》。结论 在定义测试要求的参数之前，我们建议您先确认哪些参数真正重要且可靠。 尽管相关CCT以及 x 和 y 色度坐标因已被科学家和工程师广泛认可而极具吸引力，但在定义参数时，将 FIT 纳入考量可能更为有益。如果您对 FIT 还有其他疑问，请联系我们的支持团队。
在任何产品开发过程中，定义产品必须满足的具体要求对于确保高质量至关重要。使用 iQ-LED 时，您应创建尽可能接近目标光谱的 Illumination，然后基于特定参数定义要求。我们经常被问到，哪个参数最能代表接近目标光谱的生成光谱。
以下示例图像展示了使用不同方法生成的同一光源。需要注意的是，即使某个参数的拟合效果更好，也不一定意味着光谱的再现更加准确。
图1展示了使用iQ-LED生成的标准光源A（光谱1）。 与此同时，图 2 展示了通过通道滑块手动调整的光谱（光谱 2）。光谱 2 在形状和近红外（N-IR）含量方面与标准光源 A 存在显著差异。因此，对于相机特性分析或校准而言，光谱 1 是更优的选择。
然而，如果比较光谱的 CCT 或 x、y 色度坐标，如下表所示，结果更倾向于光谱 2。
FIT参数更能准确反映实际观测到的行为特征。光谱1的FIT值为87.1，而光谱2仅为30.2。
这怎么可能呢？本质上，通过使用少数几个仅需覆盖该颜色色域的窄带光源，就可以使 CIE x 和 y 色度坐标与 CCT 相匹配。遗憾的是，当需要创建大多数标准光源所具有的精确连续光谱时，这种方法是不够的。
FIT 值采用均方根（RMS）计算，并以百分比形式表示。它针对每个测量波长将生成的光谱与目标光谱进行比较，从而考虑了窄带光源的影响。正因这一特定特性，FIT 参数也被应用到我们的 iQ-LED 设备中，用于优化生成的光谱。 基于 x 和 y 色度坐标生成 Illumination，虽然能减少与这些参数的偏差，但有时可能会导致光谱波动更大。
iQ-LED 软件版本 3.3.1 将引入一种名为“全局拟合”的 FIT 值新计算方法。 原有的拟合计算方式仍然存在，称为“局部拟合”。有关 FIT 参数及其计算方法差异的更多详细信息，请参阅 iQ-LED 拟合参数计算指南（全局与局部）。
结论
在定义测试要求的参数之前，我们建议先确认哪些参数真正重要且可靠。尽管CCT以及x和y色度坐标因已被科学家和工程师广泛认可而极具吸引力，但在定义参数时，将FIT纳入考量可能更为有益。
如果您对FIT还有其他疑问，请联系我们的支持团队。